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3. Memory Organization
AT24C32C/64C, 32/64K SERIAL EEPROM: The 32K/64K is internally organized as 128/256
pages of 32 bytes each. Random word addressing requires a 12/13 bit data word address.
Pin Capacitance (1)
Applicable over recommended operating range from T A = 25 ° C, f = 1.0 MHz, V CC = +1.8V to 5.5V
Symbol
C I/O
C IN
Test Condition
Input/Output Capacitance (SDA)
Input Capacitance (A 0 , A 1 , A 2 , SCL)
Max
8
6
Units
pF
pF
Conditions
V I/O = 0V
V IN = 0V
Note:
1. This parameter is characterized and is not 100% tested.
DC Characteristics
Applicable over recommended operating range from: T AI = -40 to +85 ° C, V CC = +1.8 to +5.5V (unless otherwise noted)
Symbol
V CC1
I CC1
I CC2
Parameter
Supply Voltage
Supply Current
Supply Current
Test Condition
V CC = 5.0V
V CC = 5.0V
READ at 400 kHz
WRITE at 400 kHz
Min
1.8
Typ
0.4
2.0
Max
5.5
1.0
3.0
Units
V
mA
mA
I SB1
I LI
I LO
V IL
Standby Current
(1.8V option)
Input Leakage
Current V CC = 5.0V
Output Leakage
Current V CC = 5.0V
Input Low Level (1)
V CC = 1.8V
V CC = 5.5V
V IN = V CC or V SS
V OUT = V CC or V SS
V IN = V CC or V SS
? 0.6
0.10
0.05
1.0
6.0
3.0
3.0
V CC x 0.3
μA
μA
μA
μA
V
V IH
Input High Level
(1)
V CC x 0.7
V CC + 0.5
V
V OL2
V OL1
Output Low Level
Output Low Level
V CC = 3.0V
V CC = 1.8V
I OL = 2.1 mA
I OL = 0.15 mA
0.4
0.2
V
V
Note:
4
1. V IL min and V IH max are reference only and are not tested.
AT24C32C/64C
5298A–SEEPR–1/08
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